結(jié)合發(fā)明目的合理解釋專利權(quán)利要求用語

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“最高人民法院經(jīng)審理認為，人民法院應(yīng)當(dāng)以所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書及附圖后所理解的通常含義，界定權(quán)利要求的用語。權(quán)利要求的用語在說明書及附圖中有明確定義或者說明的，按照其界定?！?/strong>

結(jié)合發(fā)明目的合理解釋專利權(quán)利要求用語

——（2019）最高法知行終61號

近期，最高人民法院就上訴人西門子（深圳）磁共振有限公司（以下簡稱西門子公司）與上訴人國家知識產(chǎn)權(quán)局、上訴人上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司（以下簡稱聯(lián)影公司）專利權(quán)無效行政糾紛案作出判決，認定涉案專利具備新穎性和創(chuàng)造性，駁回西門子（深圳）磁共振有限公司的訴訟請求。

涉案專利權(quán)利要求1請求保護一種平面回波成像序列的圖像重建方法，其特征在于，包括如下步驟：獲取平面回波成像數(shù)據(jù)Si，并同時采集三條沒有經(jīng)過相位編碼的參考回波信號R1、R2、R3，所述三條參考回波信號分別為偶信號、奇信號以及偶信號；通過所述參考回波信號計算出需要對所述平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)；將所述平面回波成像數(shù)據(jù)沿讀出方向進行一維傅里葉變換得變換結(jié)果FSi，并用所述校正參數(shù)校正FSi，計算出校正后的平面回波成像數(shù)據(jù)；對校正后的平面回波成像數(shù)據(jù)沿相位編碼方向做一維傅里葉變換得到圖像。

關(guān)于本專利權(quán)利要求1是否具備新穎性的爭議焦點為，如何解釋本專利權(quán)利要求1中“計算”這一術(shù)語。

被訴決定認為，本專利權(quán)利要求1中的“計算”應(yīng)解釋為不損失相位以及其他信息的直接計算方式，對比文件1是將S1+S3平均后損失某些信息的間接計算，沒有公開權(quán)利要求1中的直接計算方式，故權(quán)利要求1具備新穎性。

一審判決認為，本專利說明書中既未針對權(quán)利要求1中的“計算”進行專門界定，也沒有與“直接進行計算”相關(guān)的任何表述，在此情況下，應(yīng)當(dāng)對“計算”作出最廣義的解釋，且此種廣義解釋也未超出合理范圍；被訴決定將“計算”限縮解釋為“直接進行計算”，實質(zhì)上是先將說明書中記載的具體實施方式進行歸納總結(jié)，再將其與對比文件1中計算校正數(shù)據(jù)的方法進行比較后得出的結(jié)論，該解釋方法將帶來極大的不確定性，而且何為“直接”本身就是模糊的，權(quán)利要求1的保護范圍反而將因此變得不清楚，不符合對權(quán)利要求進行解釋的目的。

最高人民法院經(jīng)審理認為，人民法院應(yīng)當(dāng)以所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書及附圖后所理解的通常含義，界定權(quán)利要求的用語。權(quán)利要求的用語在說明書及附圖中有明確定義或者說明的，按照其界定。

即便在適用所謂的最大合理原則解釋權(quán)利要求時，亦應(yīng)當(dāng)在權(quán)利要求用語最大含義范圍內(nèi)，以“合理”解釋為出發(fā)點和落腳點。

具體到本案，結(jié)合本專利發(fā)明目的、說明書及附圖對“計算”的解釋與說明可知，本專利中的“計算”并不包括所有可能的計算方式，而是有其特定含義。

首先，本專利在背景技術(shù)及發(fā)明內(nèi)容部分指出，現(xiàn)有技術(shù)通過第一個和第二個回波信號計算出相位差異，把這些相位差作為校正量來校正采集到的圖像數(shù)據(jù)，并不能有效消除N/2偽影；二維相位校正法消除N/2偽影的效果雖比較好，但序列采集時間延長，平面回波成像序列失去了快速成像的優(yōu)點。

正因如此，本專利為了克服上述缺陷，意在提供一種更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

可見，本專利的發(fā)明目的已經(jīng)明確排除了兩個回波信號計算相位差異因而損失相位信息的計算方法。

其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員通過閱讀說明書及附圖能夠理解，本專利權(quán)利要求1中的“計算”是在不損失相位以及其他信息情況下的直接計算，不應(yīng)當(dāng)將“計算”一詞單純根據(jù)字面含義進行解釋。最高人民法院最終認定涉案專利具有新穎性和創(chuàng)造性。

附：判決書全文：

中華人民共和國最高人民法院

行政判決書

（2019）最高法知行終61號

上訴人（原審原告）：西門子（深圳）磁共振有限公司。　　

法定代表人：阿瑟·弗里德里?！た档拢―r.Arthur Friedrich Kaindl）。

委托訴訟代理人：張貴東，北京市柳沈律師事務(wù)所專利代理師。

委托訴訟代理人：侯宇，北京市柳沈律師事務(wù)所律師。

上訴人（原審被告）：國家知識產(chǎn)權(quán)局。

法定代表人：申長雨，該局局長。

委托訴訟代理人：倪曉紅，該局審查員。

委托訴訟代理人：王婧，該局審查員。

上訴人（原審第三人）：上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司。

法定代表人：俞曄珣，該公司董事兼聯(lián)席總裁。

委托訴訟代理人：韓穎，德恒上海律師事務(wù)所律師。

委托訴訟代理人：陳哲，德恒上海律師事務(wù)所律師。

上訴人西門子（深圳）磁共振有限公司（以下簡稱西門子公司）與上訴人國家知識產(chǎn)權(quán)局、上訴人上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司（以下簡稱聯(lián)影公司）因?qū)＠麢?quán)無效行政糾紛一案，不服北京知識產(chǎn)權(quán)法院于2019年4月26日作出的（2018）京73行初1404號行政判決，向本院提起上訴。本院于2019年7月17日立案后，依法組成合議庭并公開開庭審理了本案。上訴人西門子公司的委托訴訟代理人侯宇、張貴東，上訴人國家知識產(chǎn)權(quán)局的委托訴訟代理人倪曉紅、王婧，上訴人聯(lián)影公司的委托訴訟代理人韓穎、陳哲到庭參加訴訟。本案現(xiàn)已審理終結(jié)。

西門子公司上訴請求：1.糾正(2018)京73行初1404號行政判決中的事實認定和法律適用錯誤；2.撤銷國家知識產(chǎn)權(quán)局專利復(fù)審委員會（以下簡稱專利復(fù)審委員會）作出的第33719號無效宣告請求審查決定（以下簡稱被訴決定），并判令國家知識產(chǎn)權(quán)局重新作出無效宣告請求審查決定。事實和理由：原審判決對專利號為201310072198.X、名稱為“平面回波成像序列圖像的重建方法”的發(fā)明專利（以下簡稱本專利）權(quán)利要求2、5的保護范圍解釋不清，法律適用錯誤。對權(quán)利要求的解釋應(yīng)當(dāng)以本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書和附圖之后對該術(shù)語所能理解的通常含義為準，不應(yīng)不恰當(dāng)?shù)貙⒄f明書中的內(nèi)容解釋到權(quán)利要求中，否則將造成權(quán)利要求保護范圍的不確定性，損害公眾利益。在確權(quán)程序中對權(quán)利要求的修改應(yīng)始終優(yōu)先于對權(quán)利要求的限縮性解釋。原審判決雖然籠統(tǒng)地指出了本領(lǐng)域技術(shù)人員可按照說明書的內(nèi)容得知具體計算方式，但卻并沒有具體指出本專利說明書中哪些段落用于解釋權(quán)利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”。公眾不能知道說明書的哪些部分被解釋到了權(quán)利要求中，很難確定本專利的保護范圍。權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”應(yīng)當(dāng)被解釋為可以用于消除圖像N/2偽影的任何零次項相位校正參數(shù)和一次項相位校正參數(shù)，而不應(yīng)限定其具體的計算方法。權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”應(yīng)當(dāng)被解釋為可以用于校正圖像變形的任何零次項相位校正參數(shù)和一次項相位校正參數(shù)，也不應(yīng)當(dāng)限定其具體的計算方法。

國家知識產(chǎn)權(quán)局辯稱：原審判決對于本專利權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”、權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”的解釋正確。

聯(lián)影公司述稱：權(quán)利要求2、5清楚、簡要地限定了專利權(quán)保護范圍，符合《中華人民共和國專利法》（以下簡稱專利法）第二十六條第四款的規(guī)定。權(quán)利要求1具備新穎性，權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征也具備新穎性。

國家知識產(chǎn)權(quán)局上訴請求：撤銷原審判決；維持被訴決定；駁回西門子公司原審全部訴訟請求。事實和理由：原審法院用最大合理解釋原則來解釋權(quán)利要求1中“計算”系法律適用不當(dāng)，導(dǎo)致對新穎性的認定錯誤?！白畲蠛侠斫忉尅痹瓌t必須滿足“合理”這一條件?！坝嬎恪辈荒苓M行最廣義的解釋，權(quán)利要求1中“通過所述參考回波信號計算出需要對所述平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)”應(yīng)指不損失其相位以及其他信息的直接計算方式，而不包括對比文件1中將S1+S3平均后損失某些信息的間接計算。原審法院對“計算”的解釋會導(dǎo)致權(quán)利要求1的保護范圍中包含明顯不合理的屬于本專利排除在外的現(xiàn)有技術(shù)方案。被訴決定根據(jù)說明書的記載將“計算”解釋為“直接進行計算”既符合本專利申請文件中的客觀記載，亦符合專利權(quán)人的主觀保護意圖，是對權(quán)利要求1保護范圍的正確認定。

西門子公司辯稱：被訴決定錯誤理解了對比文件1公開的技術(shù)內(nèi)容，忽視了對比文件1中明確記載的用于計算校正參數(shù)的三個實際采集的參考回波信號（S1+、S2-和S3+），僅片面地截取一中間計算步驟與本專利權(quán)利要求1中的技術(shù)特征進行比對，導(dǎo)致明顯的事實認定錯誤。本專利權(quán)利要求1的技術(shù)方案與對比文件1公開的技術(shù)方案相同，均是利用三個參考回波信號計算校正參數(shù)?！坝嬎恪币辉~應(yīng)被“準確”且“合理”地解釋為本領(lǐng)域技術(shù)人員所理解的通常含義，即由已知量計算出未知量，無需關(guān)注“計算”的具體中間過程。因此，本專利權(quán)利要求1相對于對比文件1不具備新穎性。應(yīng)駁回國家知識產(chǎn)權(quán)局的上訴請求，維持原審判決中關(guān)于本專利權(quán)利要求1相對于對比文件1不具備新穎性的認定。

聯(lián)影公司述稱：認可被訴決定，應(yīng)支持國家知識產(chǎn)權(quán)局的上訴請求。

聯(lián)影公司上訴請求：撤銷原審判決，維持被訴決定。事實和理由：1.權(quán)利要求1中的“計算”對象是“所述參考回波信號”，即權(quán)利要求1所述的“同時采集的三條沒有經(jīng)過相位編碼的參考回波信號R1、R2、R3”；而對比文件1是利用一條采集獲得的參考回波信號和一條經(jīng)算數(shù)平均后所獲得的虛擬信號進行計算，該信號已不是“參考回波信號”，兩者具有本質(zhì)差異。原審判決對權(quán)利要求的解釋不符合發(fā)明目的，即不符合“最大合理解釋”中“合理”要求。2.對比文件2、3或4未公開本專利權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征，對比文件5或6未公開權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征，本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求均具備創(chuàng)造性，被訴決定對此認定無誤。

西門子公司辯稱：對比文件1已經(jīng)公開了實際采集三個參考回波信號S1+、S2-和S3+。雖然計算校正參數(shù)的過程是先將第一參考回波S1+和第三參考回波S3+計算，得到一個插值回波S2+，并利用該插值回波S2-和第二參考回波S2-計算用于N/2偽影校正的參數(shù)。但是在對比文件1計算校正參數(shù)的過程中，三個實際采集的參考回波信號S1+、S2-和S3+均參與到校正參數(shù)的計算。因此，對比文件1的技術(shù)方案與本專利權(quán)利要求1的技術(shù)方案完全相同，本專利權(quán)利要求1相對于對比文件1不具備新穎性。原審判決關(guān)于本專利權(quán)利要求1是否具備新穎性的認定正確，應(yīng)駁回聯(lián)影公司的上訴請求。

國家知識產(chǎn)權(quán)局述稱：認可聯(lián)影公司的上訴請求和理由。

西門子公司向原審法院提起訴訟，原審法院于2018年2月5日立案受理。西門子公司起訴請求：撤銷被訴決定，責(zé)令國家知識產(chǎn)權(quán)局重新作出決定。事實和理由：1.被訴決定有關(guān)本專利權(quán)利要求1、2具備新穎性的認定錯誤。2.被訴決定有關(guān)本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求清楚的認定錯誤。3.被訴決定有關(guān)本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求能夠得到說明書支持的認定錯誤。4.被訴決定有關(guān)本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求具備創(chuàng)造性的認定錯誤。

國家知識產(chǎn)權(quán)局原審辯稱：限縮性解釋問題建立在對本專利說明書所公開的技術(shù)信息的理解基礎(chǔ)之上，而且不可否認說明書對權(quán)利要求的解釋作用。被訴決定認定事實清楚，適用法律正確，審理程序合法，請求法院駁回西門子公司的訴訟請求。

聯(lián)影公司原審述稱：同意被訴決定意見，請求法院駁回西門子公司的訴訟請求。

原審法院認定事實：

（一）關(guān)于本專利基本情況

2013年3月6日，聯(lián)影公司申請了名稱為“平面回波成像序列圖像的重建方法”的發(fā)明專利。專利號為201310072198.X，授權(quán)公告日為2015年5月13日。授權(quán)公告的權(quán)利要求如下：

1.一種平面回波成像序列的圖像重建方法，其特征在于，包括如下步驟：

獲取平面回波成像數(shù)據(jù)Si，并同時采集三條沒有經(jīng)過相位編碼的參考回波信號R1、R2、R3，所述三條參考回波信號分別為偶信號、奇信號以及偶信號；

通過所述參考回波信號計算出需要對所述平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)；

將所述平面回波成像數(shù)據(jù)沿讀出方向進行一維傅里葉變換得變換結(jié)果FSi，并用所述校正參數(shù)校正FSi，計算出校正后的平面回波成像數(shù)據(jù)；

對校正后的平面回波成像數(shù)據(jù)沿相位編碼方向做一維傅里葉變換得到圖像。

2.如權(quán)利要求1所述平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述校正參數(shù)包括零次項相位偏差因子、一次項相位偏差因子。

3.如權(quán)利要求2所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，對所述平面回波成像數(shù)據(jù)的偶數(shù)項信號或者奇數(shù)項信號進行校正，得到校正后的數(shù)據(jù)CFSi(n)，

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的偶數(shù)項，或者其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的奇數(shù)項；

其中，n為讀出方向樣本點的序數(shù)，Nro為讀出方向總樣本點的個數(shù)，當(dāng)所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應(yīng)奇偶梯度極性一致時，所述sign＝+1，當(dāng)所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應(yīng)奇偶梯度極性相反時，所述sign＝-1。

4.如權(quán)利要求2所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，對所述平面回波成像數(shù)據(jù)的偶數(shù)項信號與奇數(shù)項信號進行校正，得到校正后的數(shù)據(jù)CFSi(n)，

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的偶數(shù)項，以及其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的奇數(shù)項；

其中n為讀出方向樣本點的序數(shù)，Nro為讀出方向總樣本點的個數(shù)，當(dāng)所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應(yīng)奇偶梯度極性一致時，所述sign＝+1，當(dāng)所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應(yīng)奇偶梯度極性相反時，所述sign＝-1。

5.如權(quán)利要求1或2所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述校正參數(shù)包括零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子。

6.如權(quán)利要求5所述的平面回波序列圖像重建方法，其特征在于，對所述平面回波成像數(shù)據(jù)的偶數(shù)項信號與奇數(shù)項信號進行校正，得到校正后的數(shù)據(jù)CFSi(n)，

其中i為平面回波成像信號序數(shù)；

所述n為讀出方向樣本點的序數(shù)，Nro為讀出方向總樣本點的個數(shù)，Npe為相位編碼方向樣本點總數(shù)。

7.如權(quán)利要求5所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，對所述平面回波成像數(shù)據(jù)的偶數(shù)項信號與奇數(shù)項信號進行校正，得到校正后的數(shù)據(jù)CFSi(n)，

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的偶數(shù)項，以及

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的奇數(shù)項；或者

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的偶數(shù)項，以及

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的奇數(shù)項；或者

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的偶數(shù)項，以及

其中i為平面回波成像信號序數(shù)中的奇數(shù)項；

其中n為讀出方向樣本點的序數(shù)，Nro為讀出方向總樣本點的個數(shù)，Npe為相位編碼方向樣本點總數(shù)，當(dāng)所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應(yīng)奇偶梯度極性一致時，所述sign＝+1，當(dāng)所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應(yīng)奇偶梯度極性相反時，所述sign＝-1。

8.如權(quán)利要求5所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述一次項相位偏差因子所述一次項相位偏移因子與第一一次項相位第二一次項相位關(guān)聯(lián)，所述第一一次項相位為所述參考回波信號R1與R2的一次項相位差，所述第二一次項相位為所述參考回波信號R2與R3的一次項相位差。

9.如權(quán)利要求8所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述一次項相位偏差因子所述一次項相位偏移因子

10.如權(quán)利要求5所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述零次項相位偏差因子所述零次項相位偏移因子與第一零次項相位第二零次項相位關(guān)聯(lián)，所述第一零次項相位為所述參考回波信號R1與R2的零次項相位差，所述第二零次項相位為所述參考回波信號R2與R3的零次項相位差。

11.如權(quán)利要求10所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述零次項相位偏差因子所述零次項相位偏移因子

12.如權(quán)利要求8所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，

對所述參考回波信號R1、R2、R3傅里葉變換后復(fù)數(shù)共軛相乘，用來計算需要對所述平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)。

13.如權(quán)利要求12所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，

將所述參考回波信號R1、R2、R3傅里葉變換得變換結(jié)果FR1、FR2與FR3，

FR1＝FT1D{R1}

FR2＝FT1D{R2}

FR3＝FT1D{R3}

然后將所述FR1與FR2、FR2與FR3復(fù)數(shù)共軛相乘得運算結(jié)果P1(n)、P2(n)，

P1(n)＝FR1(n)×conj[FR2(n)]

P2(n)＝FR3(n)×conj[FR2(n)]

其中n的取值范圍為[1，Nro]；

分別取P1(n)、P2(n)的幅值最大值A(chǔ)MAX1、AMAX2；

將所述P1(n)及P2(n)鄰近兩點的復(fù)數(shù)共軛相乘得運算結(jié)果DP1(n)、DP2(n)，

DP1(n)＝P1(n+1)×conj[P1(n)]

DP2(n)＝P2(n+1)×conj[P2(n)]

將所述DP1(n)對應(yīng)所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1的所有點相加得運算結(jié)果SDP1(n)，所述DP2(n)對應(yīng)所述P2(n)幅值大于τ×AMAX2的所有點相加得運算結(jié)果SDP2(n)，其中τ為預(yù)設(shè)參數(shù)，δ為0或1，當(dāng)所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1或所述P2(n)幅值大于τ×AMAX2時，δ＝1，否則δ＝0；

分別取所述SDP1(n)與SDP2(n)的相位即可得所述第一一次項相位所述第二一次項相位

14.如權(quán)利要求13所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，

對所述P1(n)及P2(n)的相位進行校正，以消除和的影響，得到校正結(jié)果CP1(n)、CP2(n)，

將所述CP1(n)對應(yīng)所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1的所有點相加得運算結(jié)果SCP1(n)，所述CP2(n)對應(yīng)所述P2(n)幅值大于τ×AMAX2的所有點相加得運算結(jié)果SCP2(n)，其中τ為預(yù)設(shè)參數(shù)，δ為0或1，當(dāng)所述P1(n)幅值大于τ×AMAX1或所述P2(n)幅值大于τ×AMAX2時，δ＝1，否則δ＝0；

分別取所述SCP1(n)與SCP2(n)的相位即可得所述第一零次項相位所述第二零次項相位

15.如權(quán)利要求13或14中任一項所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)參數(shù)τ＝0.5。

16.如權(quán)利要求13所述的平面回波成像序列圖像重建方法，其特征在于，

若使用多通道采集平面回波數(shù)據(jù)，則將所述FR1與FR2、FR2與FR3復(fù)數(shù)共軛相乘然后進行多通道合并，包括：

其中l(wèi)與Ncoil分別為接收通道序數(shù)、接收通道的總數(shù)。

（二）關(guān)于被訴決定基本情況

針對本專利，西門子公司于2016年11月30日向?qū)＠麖?fù)審委員會提出了無效宣告請求，認為本專利權(quán)利要求1-16不符合專利法第二十二條第三款、權(quán)利要求1不符合專利法第二十二條第四款，權(quán)利要求1、2、5、8、10不符合專利法第二十六條第四款、權(quán)利要求1、2、5不符合專利法第二十二條第二款的規(guī)定，請求宣告本專利權(quán)利要求全部無效，同時提交了如下7份證據(jù)：

證據(jù)1（對比文件1）：公開號為DE19715113A1的德國專利文獻，公開日期為1998年10月22日，公開了“在EPI序列中，核磁共振信號的采樣值的采樣時間典型地處于0.5至4μs……由此產(chǎn)生信號偏移，其結(jié)果是上面示出的N/2偽影。在行方向上的傅里葉變換之后，所述信號偏移導(dǎo)致信號的線性相位響應(yīng)。此外，也可能發(fā)生恒定的相位誤差。例如，在基本磁場漂移的情況下，這樣的漂移可能通過渦流導(dǎo)致圖像變形。在行方向上對原始數(shù)據(jù)矩陣進行傅里葉變換之后，由此整體上得到取決于列數(shù)i的相位響應(yīng)：……圖8示出了在實際的圖像測量之前的讀出梯度GR的正的子脈沖下的核磁共振信號S1+和在讀出梯度GR的負的子脈沖下的核磁共振信號S2-形式的兩個參考回波。在沒有相位編碼梯度的影響的情況下獲取兩個參考回波，即核磁共振信號S1+和S2-?！睂Ρ任募?還公開了“在前面提到的專利文獻中現(xiàn)在假定，在負的和正的子脈沖下獲取的兩個核磁共振信號之間的相位差代表了最終導(dǎo)致開始解釋的N/2偽影的相位誤差。然而，在該考慮中忽視了以下效應(yīng)。兩個參考回波S1+和S2-和具有不可避免地不同的回波時間，即參考回波S1+的回波時間TE1小于參考回波S2-的回波時間TE2。如果對象中的局部自旋進動頻率以Δω的量與MR設(shè)備處設(shè)置的頻率不一到處，則這導(dǎo)致在兩個參考回波之間的相位差，，其不能與本身要被校正的不同來源的相位差相區(qū)別……根據(jù)按照圖8的本發(fā)明的示例性實施例，這通過測量第三參考回波S3+來避免，該參考回波與第一參考回波S1+一樣在讀出梯度GR的正的子脈沖下被測量?！薄皥D14以流程圖再次示出了整個校正過程。首先，采集參考回波和圖像回波（圖像信號）。對于參考回波和對于圖像回波，在行方向上進行傅里葉變換。然后分別對于兩個參考回波，借助自相關(guān)函數(shù)確定線性相位響應(yīng)，利用其校正在行方向上傅里葉變換后的圖像回波。此外，還利用確定的線性相位響應(yīng)的交正參考回波本身。通過校正后的參考回波的互相關(guān)，獲得對于恒定相位響應(yīng)的校正量。對圖像數(shù)據(jù)應(yīng)用對應(yīng)的校正。通過對校正后的矩陣在列方向上進行傅里葉變換最終獲得圖像”。

證據(jù)2（對比文件2）：公開號為US?011/0234221A1美國專利文獻，公開日期為2011年9月29日；

證據(jù)3（對比文件3）：公開號為US5581184A美國專利文獻，公開日期為1996年12月3日；

證據(jù)4（對比文件4）：“A New Phase Correction Method in NMR Imaging Based on Autocorrelation and Histogram Analysis”，C.B.AHN，MEMBER，IEEE AND Z.H.CHO.FELLOW，IEEE，IEEE TRANSACTIONS ON MEDICAL IMAGING.VOL.M1-6，NO.1，MARCH 1987；

證據(jù)5（對比文件5）：公開號為US7689262B2美國專利文獻，公開日期為2010年3月30日；

證據(jù)6（對比文件6）：公開號為CN101109791B中國發(fā)明專利，授權(quán)公告日為2010年9月29日；

證據(jù)7（對比文件7）：公開號為US5151656A美國專利文獻，公開日期為1992年9月29日。

2016年12月29日，西門子公司提交了補充意見陳述書，補充提交了證據(jù)1-4、5、7的部分中文譯文，并提交了如下證據(jù)（編號續(xù)前）：

證據(jù)8：申請公布號為CNY102870000A的中國發(fā)明專利申請，申請公布日為2013年1月9日。

西門子公司補充意見認為：從屬權(quán)利要求12不符合專利法第二十二條第二款規(guī)定的新穎性；獨立權(quán)利要求1相對于證據(jù)1、證據(jù)5的結(jié)合不具備專利法第二十二條第三款規(guī)定的創(chuàng)造性；從屬權(quán)利要求4的附加技術(shù)特征為證據(jù)1結(jié)合公知常識所公開；從屬權(quán)利要求16的附加技術(shù)特征為證據(jù)8結(jié)合公知常識所公開。另外，西門子公司還認為權(quán)利要求10的附加技術(shù)特征被證據(jù)2公開，但未具體說明理由，并認為權(quán)利要求1-16均不符合專利法第二十六條第四款有關(guān)清楚和/或支持的規(guī)定　

專利復(fù)審委員會受理上述無效宣告請求后，于2017年4月17日進行了口頭審理。在口頭審理過程中，西門子公司放棄權(quán)利要求12不符合專利法第二十二條第二款的無效理由，放棄使用證據(jù)1結(jié)合證據(jù)5評述權(quán)利要求1的創(chuàng)造性；西門子公司明確其無效理由為本專利權(quán)利要求1不符合專利法第二十二條第四款的規(guī)定，權(quán)利要求1-16不符合專利法第二十六條第四款的規(guī)定，權(quán)利要求1、2、5不符合專利法第二十二條第二款的規(guī)定；權(quán)利要求1-16不符合專利法第二十二條第三款的規(guī)定。其中權(quán)利要求1相對于證據(jù)1、2、5不具備新穎性，故不具備創(chuàng)造性，權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征為證據(jù)2、3或4所公開，權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征為證據(jù)5或證據(jù)6所公開；其他權(quán)利要求評價新穎性和創(chuàng)造性的證據(jù)使用方式與請求書和補充意見陳述書中一致。

2017年4月21日，西門子公司另提交了意見陳述書，并附如下附件：

附件1：證明證據(jù)1的技術(shù)在公開后20年間被廣泛采用的教科書頁；

附件2：蓋有國家圖書館齊縫章的證據(jù)4的文獻復(fù)制證明。

2017年10月9日，專利復(fù)審委員會作出被訴決定，認為：（一）本專利具備實用性，符合專利法第二十二條第四款的規(guī)定；（二）本專利權(quán)利要求清楚，且能夠得到說明書的支持，符合專利法第二十六條第四款的規(guī)定；（三）本專利具備新穎性，符合專利法第二十二條第二款的規(guī)定；（四）本專利具備創(chuàng)造性，符合專利法第二十二條第三款的規(guī)定。綜上，專利復(fù)審委員會決定維持本專利有效。

原審法院認為：

（一）關(guān)于本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求是否清楚

就該爭議焦點而言，西門子公司訴訟主張的核心觀點在于本專利權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”，以及權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”并非本領(lǐng)域技術(shù)人員熟知的技術(shù)術(shù)語，說明書中亦未明確其含義，因此是不清楚的，進而也無法確定權(quán)利要求的保護范圍。

對此，對于權(quán)利要求中相關(guān)技術(shù)特征的含義，首先應(yīng)當(dāng)根據(jù)描述該特征的語詞的字面意思進行理解，且在一般情況下，相關(guān)語詞應(yīng)當(dāng)理解為本領(lǐng)域通常所具有的含義。如果相關(guān)語詞在本領(lǐng)域沒有確切含義，但說明書中已經(jīng)對其進行了明確界定，使得權(quán)利要求的保護范圍由于說明書的明確界定而足夠清楚，則此時也應(yīng)認為該權(quán)利要求符合專利法第二十六條第四款有關(guān)“清楚”的要求。

具體到本案中，以權(quán)利要求2為例，各方當(dāng)事人均認可權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”并非本領(lǐng)域技術(shù)人員所知曉的具有明確含義的技術(shù)術(shù)語。在此情況下，本專利說明書中是否存在以及存在何種針對上述術(shù)語的記載至關(guān)重要。根據(jù)說明書的記載，本專利通過消除N/2偽影和校正圖像變形，旨在提供一種存在偏離場的情況下，更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。其中，消除N/2偽影的方法是校正“零次項相位偏差”和“一次項相位偏差”，與此相對應(yīng)的校正參數(shù)即為“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”。而對于該校正參數(shù)的計算方式，說明書中明確記載了以R2為參照系的具體計算方法?；诖?，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)其所具備的知識和能力，并結(jié)合本專利的發(fā)明目的和說明書中公開的具體實施方式，能夠想到還存在其他可變形的計算方式，例如分別以R1或R3為參照系進行計算，同樣也能得到在平面回波成像序列的圖像重建中起到消除N/2偽影作用的校正參數(shù)。因此，盡管本專利權(quán)利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”并非本領(lǐng)域具有明確含義的技術(shù)術(shù)語，但根據(jù)說明書的全面闡釋和明確界定，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠知曉其確切含義和用途，故權(quán)利要求2是清楚的。

本專利權(quán)利要求5涉及“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”，基于以上評述權(quán)利要求2的相同理由，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)說明書的記載，同樣能夠知曉“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”的確切含義和用途（即用于校正圖像變形），因而權(quán)利要求5也是清楚的。

基于以上論述，從屬于權(quán)利要求2、5的其他權(quán)利要求也不存在不清楚的缺陷。被訴決定對此認定正確，原審法院予以支持。西門子公司的相關(guān)主張不能成立，原審法院不予支持。

（二）關(guān)于本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求是否能夠得到說明書支持

西門子公司主張本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求無法得到說明書支持的理由仍然是針對權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”，以及權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”而展開，認為說明書中有限個數(shù)的示例不足以為相關(guān)權(quán)利要求提供支持。

對此，專利法第二十六條第四款所規(guī)定的“權(quán)利要求書應(yīng)當(dāng)以說明書為依據(jù)”是指權(quán)利要求應(yīng)當(dāng)?shù)玫秸f明書的支持。如果權(quán)利要求所要求保護的技術(shù)方案是本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠通過說明書公開的內(nèi)容得到或概括得出，沒有超出說明書公開的范圍，則應(yīng)當(dāng)認為權(quán)利要求能夠得到說明書的支持。具體到本案中，仍以權(quán)利要求2為例，如前所述，其中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”并非本領(lǐng)域具有明確含義的技術(shù)術(shù)語。但這并不妨礙本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)說明書的記載獲知，“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”是用于在平面回波成像的圖像重建過程中消除N/2偽影，以得到更高質(zhì)量的診斷圖像，并且也能獲知以某一參考回波信號為參照系計算得到上述校正參數(shù)的具體方式。在此基礎(chǔ)上，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)本專利的發(fā)明目的以及說明書已經(jīng)公開的具體實施方式，能夠想到其他可變形的計算方式，例如以其他參考回波信號為參照系，計算得到權(quán)利要求2所限定的可用于消除N/2偽影的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”。因此，權(quán)利要求2的技術(shù)方案能夠從說明書公開的內(nèi)容得到或概括得出，也即能夠得到說明書的支持。

本專利權(quán)利要求5涉及“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”，基于以上評述權(quán)利要求2的相同理由，本領(lǐng)域技術(shù)人員根據(jù)說明書的記載，同樣能夠得到或概括得出權(quán)利要求5的技術(shù)方案，因此權(quán)利要求5也能夠得到說明書的支持。

鑒于西門子公司有關(guān)權(quán)利要求不能得到說明書支持的主張均是圍繞權(quán)利要求2、5中的校正參數(shù)而展開，故基于以上論述，從屬于權(quán)利要求2、5的其他權(quán)利要求也能夠得到說明書的支持。被訴決定對此認定正確，原審法院予以支持。西門子公司的相關(guān)主張不能成立，原審法院不予支持。

（三）關(guān)于本專利是否具備新穎性

本專利權(quán)利要求1和對比文件1均涉及通過計算相關(guān)校正參數(shù)（或數(shù)據(jù)）進而對磁共振成像進行重建（或校正）的方法。具體而言，本專利權(quán)利要求1請求保護一種平面回波成像序列的圖像重建方法，其中包括采集三個參考回波信號，即偶信號R1、奇信號R2、偶信號R3，并通過該三個參考回波信號計算得到用于對平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)。但對于如何使用上述參考回波信號進行“計算”，權(quán)利要求1并未作進一步限定。對比文件1則公開了實際采集三個參考回波信號，即S1+、S2-和S3+（分別相當(dāng)于權(quán)利要求1中的偶信號、奇信號、偶信號），并通過該三個參考回波信號計算校正數(shù)據(jù)。雖然對比文件1是先以第一參考回波S1+和第三參考回波S3+來計算插值回波S2+，然后再將該插值回波S2+與第二參考回波S2-進行比較以確定校正數(shù)據(jù)，但在整個過程中，實際采集的三個參考回波信號S1+、S2-和S3+均參與到了對校正數(shù)據(jù)的計算過程中?；诖?，原審法院對被訴決定將“計算”限縮解釋為“直接進行計算”的認定不予認同，原因在于：

首先，“計算”一詞對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言是具有明確清晰含義的，即根據(jù)已知量算出未知量，這與前述“零次項相位偏差因子”等由專利權(quán)人自創(chuàng)的技術(shù)術(shù)語不同，通常并不需要借助說明書中的相關(guān)界定來理解其含義。

其次，即便需要對權(quán)利要求進行解釋，也應(yīng)遵循一定的原則，且其目的在于明確權(quán)利要求中相關(guān)用語的含義，并合理界定專利權(quán)的保護范圍。最高人民法院在（2014）行提字第17號行政判決中指出：“通常情況下，在專利授權(quán)確權(quán)程序中，對權(quán)利要求的解釋采取最大合理解釋原則，即基于權(quán)利要求的文字記載，結(jié)合對說明書的理解，對權(quán)利要求作出最廣義的合理解釋。如果說明書未對權(quán)利要求用語的含義作出特別界定，原則上應(yīng)采取本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書和附圖之后對該術(shù)語所能理解的通常含義，盡量避免利用說明書或者審查檔案對該術(shù)語作不適當(dāng)?shù)南拗疲员銓?quán)利要求是否符合授權(quán)條件和效力問題作出更清晰的結(jié)論，從而促使申請人修改和完善專利申請文件，提高專利授權(quán)確權(quán)質(zhì)量?！憋@然，該案針對專利授權(quán)確權(quán)程序中權(quán)利要求解釋方法所提出的“最大合理解釋原則”也同樣適用于本案。

最后，遵循上述“最大合理解釋原則”并具體到本案情形，本專利說明書中既未針對權(quán)利要求1中的“計算”進行專門界定，也沒有與“直接進行計算”相關(guān)的任何表述，在此情況下，應(yīng)當(dāng)對“計算”作出最廣義的解釋，且此種廣義解釋也未超出合理范圍。被訴決定將“計算”限縮解釋為“直接進行計算”，實質(zhì)上是先將說明書中記載的具體實施方式進行歸納總結(jié)，再將其與對比文件1中計算校正數(shù)據(jù)的方法進行比較后得出的結(jié)論。這種解釋權(quán)利要求的方法將帶來極大的不確定性，而且何為“直接”本身就是模糊的，權(quán)利要求1的保護范圍反而將因此變得不清楚，不符合對權(quán)利要求進行解釋的目的。

綜上所述，本專利權(quán)利要求1的保護范圍囊括了所有采集三個不同極性的參考回波信號并以此來計算校正參數(shù)的方法。對比文件1也是采集三個不同極性的參考回波信號，并通過該三個參考回波信號來計算校正數(shù)據(jù)，故已公開了權(quán)利要求1的上述技術(shù)特征。至于校正參數(shù)的具體計算方式，正如西門子公司庭審時所言，不過是“黑匣子”中雖然存在但無需關(guān)注的中間過程，對本案新穎性判斷并無影響。因此，被訴決定有關(guān)本專利權(quán)利要求1相對于對比文件1具備新穎性的認定錯誤，原審法院予以糾正。西門子公司的相關(guān)訴訟主張成立，原審法院予以支持。

鑒于被訴決定是在本專利權(quán)利要求1具備新穎性的基礎(chǔ)上，得出其從屬權(quán)利要求2、5、12也具備新穎性的結(jié)論，國家知識產(chǎn)權(quán)局應(yīng)當(dāng)在對權(quán)利要求1的新穎性問題重新進行審查后，再對相關(guān)權(quán)利要求是否具備新穎性進行審查，原審法院不予以評述。

（四）關(guān)于本專利是否具備創(chuàng)造性

本案中，被訴決定認定本專利權(quán)利要求2、5具備創(chuàng)造性，并基于此認定其他從屬權(quán)利要求也具備創(chuàng)造性。在權(quán)利要求1不具備新穎性的情況下，權(quán)利要求2、5是否具備新穎性尚不明確，需要國家知識產(chǎn)權(quán)局在重新審查后得出結(jié)論，而且該新穎性的結(jié)論也將直接影響到后續(xù)有關(guān)創(chuàng)造性的審查。因此，原審法院認為，不宜跳過新穎性問題逕行對權(quán)利要求2、5的創(chuàng)造性問題進行評述。而對于權(quán)利要求2、5的從屬權(quán)利要求，基于前述相同理由，在權(quán)利要求2、5是否具備創(chuàng)造性尚不明確時，也不宜直接對從屬于權(quán)利要求2、5的其他權(quán)利要求的創(chuàng)造性問題進行評述。

綜上所述，原審法院認為，被訴決定有關(guān)本專利新穎性的認定有誤，依法應(yīng)予撤銷。原審法院判決：一、撤銷專利復(fù)審委員會作出的第33719號無效宣告請求審查決定；二、國家知識產(chǎn)權(quán)局就專利號為201310072198.X、名稱為“平面回波成像序列圖像的重建方法”發(fā)明專利重新作出無效宣告請求審查決定。案件受理費一百元，由國家知識產(chǎn)權(quán)局負擔(dān)。

二審中，當(dāng)事人均未提交新證據(jù)。

本院經(jīng)審理查明：原審查明的上述事實基本屬實，本院予以確認。

另查明，本專利說明書記載：

【背景技術(shù)】[0002]目前在磁共振成像過程中，平面回波成像序列是一種快速的、只需要單個激發(fā)脈沖就可獲得完整圖像的磁共振成像序列。磁共振梯度系統(tǒng)周期性變換，產(chǎn)生一系列梯度回波；受激平面的圖像通過對產(chǎn)生的回波序列使用傅里葉變換而得到。

[0003]……由于回波序列中奇數(shù)和偶數(shù)回波時間的不匹配或者相位差導(dǎo)致在重建之后得到的正常圖像在偏離實際的圖像視野一半的位置出現(xiàn)低強度的附加圖像，此即為N/2偽影，圖像出現(xiàn)了整體漂移以及變形。

[0004]為了盡可能地消除N/2偽影，現(xiàn)有技術(shù)中采用了一些校正方法，主要為兩種：相位校正和單邊讀出梯度法。

[0005]相位校正法包括一維相位校正方法以及二維相位校正法。一維相位校正法，在讀取數(shù)據(jù)之前，采集幾個不加相位編碼的回波信號，如圖1中的回波信號c，根據(jù)第一個和第二個回波信號，算出它們相位差異，把這些相位差作為校正量來校正采集到的圖像數(shù)據(jù)，即校正所有偶數(shù)項信號和奇數(shù)項信號之間的相位差。由于不是所有偶數(shù)項信號與奇數(shù)項信號之間的相位差都等于求得的校正量，所以該方法雖然簡單，但是效果不好，并不能有效地消除N/2偽影，同時目前的一維相位校正法并不能同時校正平面回波圖像的變形，這在低磁場的磁共振系統(tǒng)尤為明顯。

[0006]二維相位校正法，同樣是在讀取圖像數(shù)據(jù)前，采集一序列加相位編碼的回波信號，利用這些采集到的數(shù)據(jù)糾正真正的圖像數(shù)據(jù)。該方法消除N/2偽影的效果比較好，但是序列采集時間延長，平面回波成像序列失去了快速成像的優(yōu)點。

[0007]單邊讀出梯度法只在一個極性的讀出梯度時采集數(shù)據(jù)，該方法可以完全避免N/2偽影問題，但是不能糾正圖像變形，浪費掃描時間。而且由于回波時間間隔比較長，圖像在相位編碼方向上的位移，以及因磁場不均勻?qū)е碌膱D像變形更為嚴重。

[0008]……現(xiàn)有技術(shù)中能夠有效消除N/2偽影的校正方法采集時間較長或者不能夠校正由于偏離場而導(dǎo)致的圖像變形，采集時間較短的校正方法去除N/2偽影的效果比較差且同時也不能夠校正圖像的變形。因此，需要提供一種更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

【發(fā)明內(nèi)容】[0009]為了解決現(xiàn)有技術(shù)中平面回波成像序列中消除N/2偽影效果差，不能校正圖像變形，以及采集時間較長的問題，本發(fā)明提供了一種更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

[0083]脈沖激發(fā)以及磁場梯度周期性變換，產(chǎn)生一系列梯度回波，平面回波成像數(shù)據(jù)Si即這些梯度回波信號，同時采集三條沒有經(jīng)過相位編碼的回波信號，這里需要說明的是，三個參考回波信號的采集是在成像數(shù)據(jù)采集的同一次掃描中進行的。

[0084]執(zhí)行步驟S11，通過所述參考回波信號計算出需要對所述平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)；

[0085]所述校正參數(shù)包括零次項相位偏差因子、一次項相位偏差因子，零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子。

[0086]如圖3所示，圖中的水平直線代表了在理想情況下平面回波信號的相位隨回波位置的變化。與之相交的有一定角度的直線代表了在有偏離場存在的情況下回波信號的相位隨回波位置的變化。同時由于正負極性差異而散落在直線兩側(cè)的數(shù)據(jù)即表示正負回波信號的相位差異。偏離場的存在導(dǎo)致平面回波圖像存在一定的變形，而散落在直線兩側(cè)所表示的回波信號差異表現(xiàn)在圖像上即是N/2偽影。

[0087]為了得到清晰完整的能夠用于診斷的高質(zhì)量圖像，必須要消除偽影以及校正圖像的變形。當(dāng)偏離場的主要來源為讀出（以x軸表示）小梯度的切換時，它與空間位置x呈一定的線性關(guān)系。因此而產(chǎn)生的回波信號相位偏差及偏移也成線性變化。

[0088]用表述沿讀出方向的回波信號相位，則有、、，其中零次項相位偏移、一次項相位偏移、零次項相位偏差、一次項相位偏差。

[0089]從上面可以看出，校正零次項相位偏差及一次項相位偏差即可消除N/2偽影帶來的影響，而校正零次項相位偏移及一次項相位偏移即可校正帶來的圖像變形。

再查明，被訴決定作出的主要理由為：

（一）關(guān)于本專利是否符合專利法第二十二條第四款的規(guī)定

“同時”并非是指在同一時間采集三條不同極性的信號，而是在一次獲取平面回波成像數(shù)據(jù)的相同時間內(nèi)采集三條不同極性的信號，如本專利說明書[0083]段所述“脈沖激發(fā)以及磁場梯度周期性變換，產(chǎn)生一系列梯度回波，平面回波成像數(shù)據(jù)Si即這些梯度回波信號，同時采集三條沒有經(jīng)過相應(yīng)編碼的回波信號，這里需要說明的是，三個參考回波信號的采集是在成像數(shù)據(jù)采集的同一次掃描中進行的?！庇捎谠谕耆嗤耐粫r間點采集信號，基于特定時間點的相位完全一致，其采集的信號極性必然是完全相同，本領(lǐng)域技術(shù)人員可知上述段落中所表述的意思是在同一次掃描的時間段內(nèi)不同的時間點采集了三條極性不同的信號，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解為獲取對于所要校正的平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正，從所述同一次掃描的時間段內(nèi)的信號計算出的校正參數(shù)，才能對其存在的需要校正的情況予以校正；其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員可知平面回波成像數(shù)據(jù)通常是有相位編碼的，而參考回波信號是可以沒有相位編碼的，在前述的“同時”理解為同一次掃描的時間段不同時間點采集參考回波的情況下，本領(lǐng)域技術(shù)人員已經(jīng)可以實現(xiàn)權(quán)利要求1記載的技術(shù)方案。因此西門子公司的上述主張不成立。

（二）關(guān)于本專利是否符合專利法第二十六條第四款的規(guī)定

1.本專利權(quán)利要求1中的“同時”應(yīng)理解為本專利說明書[0083]段所述在同一掃描時間段的不同時間點采集信號，所謂“同時”是指在獲取平面回波成像數(shù)據(jù)的同一時間段內(nèi)，因此西門子公司在無效請求書中主張的上述缺陷不存在。

2.權(quán)利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”并非本領(lǐng)域技術(shù)人員熟知明確含義的技術(shù)術(shù)語，雖然術(shù)語“相位”的含義是為本領(lǐng)域技術(shù)人員所知曉的，但是并不明確上述兩個用語的明確含義。也就是說，上述兩個用語在本領(lǐng)域中并沒有在相關(guān)領(lǐng)域中具有內(nèi)涵和邊界十分明確的含義。那么在此情況下，在本專利說明書予以清楚明確說明其含義的，應(yīng)當(dāng)遵循其在說明書記載的本義。本專利旨在解決平面回波成像序列圖像重建過程中，保持一維相位校正快速簡單的優(yōu)點，能夠在有偏離場存在的情況下有效地去除N/2偽影，同時能夠校正由于偏離場存在而導(dǎo)致的圖像變形。換言之，本專利旨在校正的誤差包括兩種具體情況：簡單而言，一是N/2偽影，二是圖像變形。其中，在圖像上表現(xiàn)為N/2偽影的原因是由于讀出梯度正負極性的差異，導(dǎo)致讀出的數(shù)據(jù)并不完全一致，如回波中心不一致，K空間上每條線的間隔不等。而導(dǎo)致在圖像變形的原因是由于磁場的不均勻性即偏離場的存在。為了得到清晰完整的能夠用于診斷的高質(zhì)量圖像，必須要消除偽影及圖像變形。通過本專利說明書附圖3中針對重建方法的步驟11的具體說明，明確了“校正零次項相位偏差及一次項相位偏差即可消除N/2偽影帶來的影響”，也就是說，本專利中校正零次項相位偏差及一次項相位偏差是在平面回波成像序列的圖像重建方法中作為消除N/2偽影帶來的影響的因子。因此，雖然權(quán)利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”并非相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)術(shù)語，但是基于本專利說明書中給予的明確闡釋，本領(lǐng)域技術(shù)人員可知其是用于平面回波成像序列的圖像重建方法中為了得到清晰完整能用于診斷的高質(zhì)量圖像，用于消除圖像N/2偽影帶來的影響的校正參數(shù)。至于其如何計算，說明書里已經(jīng)給出了以R?為參照系的具體計算實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員在說明書具體實施方式所公開的內(nèi)容基礎(chǔ)上可以想到其存在其他可變形的方式，例如以R?或R?為參照系，只要其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作為消除圖像N/2偽影帶來的影響的校正參數(shù)即可。因此西門子公司認為其含義不清楚的主張不成立。

3.基于與前述相似的理由，即若權(quán)利要求中的用語不具有本領(lǐng)域明確含義的情況下，可以首先依據(jù)其內(nèi)部證據(jù)，即說明書中給出的明確含義來理解。本專利旨在校正的誤差包括兩種具體情況：一是N/2偽影，二是圖像變形。其中，在圖像上表現(xiàn)為N/2偽影的原因是由于讀出梯度正負極性的差異，導(dǎo)致讀出的數(shù)據(jù)并不完全一致，如回波中心不一致，K空間上每條線的間隔不等。而導(dǎo)致在圖像變形的原因是由于磁場的不均勻性即偏離場的存在。為了得到清晰完整的能夠用于診斷的高質(zhì)量圖像，必須要消除偽影及圖像變形。通過針對重建方法的本專利說明書附圖3中步驟11的具體說明，明確了“校正零次項相位偏移及一次項相位偏移即可消除校正帶來的圖像變形偏帶來的影響”，也就是說，本專利中校正零次項相位偏移及一次項相位偏移是在平面回波成像序列的圖像重建方法中作為可校正帶來的圖像變形的校正因子。因此雖然權(quán)利要求5中限定的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”并非相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)術(shù)語，但是基于本專利說明書中給予的明確闡釋，本領(lǐng)域技術(shù)人員可知其是用于平面回波成像序列的圖像重建方法中為了得到清晰完整能用于診斷的高質(zhì)量圖像，用于校正有偏離場存在的情況下回波信號的相位隨回波位置的變化導(dǎo)致圖像變形的校正參數(shù)。至于其如何計算，說明書里已經(jīng)給出了以某一參考回波信號為參照系的具體計算實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員在說明書具體實施方式所公開的內(nèi)容基礎(chǔ)上可以想到其存在其他可變形的方式，例如以其他參考回波信號作為參照系，只要其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作為消除偏離場存在的情況下回波信號的相位隨回波位置的變化導(dǎo)致圖像變形的校正參數(shù)即可。因此西門子公司認為其含義不清楚的主張不成立。

4.基于此，引用上述權(quán)利要求的從屬權(quán)利要求亦不存在上述不清楚的缺陷。

5.權(quán)利要求2中限定的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”并非本領(lǐng)域技術(shù)人員熟知明確含義的技術(shù)術(shù)語，也就是說，上述兩個用語在本領(lǐng)域中并沒有在相關(guān)領(lǐng)域中具有內(nèi)涵和邊界十分明確的含義。此時可以根據(jù)在本專利說明書清楚明確說明其含義的，應(yīng)當(dāng)遵循其在說明書記載的本義。雖然權(quán)利要求2、5中限定的上述用語并非相關(guān)領(lǐng)域的技術(shù)術(shù)語，但是基于本專利說明書中給予的明確闡釋，本領(lǐng)域技術(shù)人員可知其是用于平面回波成像序列的圖像重建方法中為了得到清晰完整能用于診斷的高質(zhì)量圖像，權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”用于消除圖像N/2偽影帶來的影響的校正參數(shù)；權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”用于校正有偏離場存在的情況下回波信號的相位隨回波位置的變化導(dǎo)致圖像變形的校正參數(shù)。至于其如何計算，說明書里已經(jīng)給出了以某一參考回波信號為參照系的具體計算實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員在說明書具體實施方式所公開的內(nèi)容基礎(chǔ)上可以想到其存在其他可變形的方式，例如以其他參考回波信號作為參照系，其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作為消除圖像N/2偽影帶來的影響的校正參數(shù)即可，或者其能夠起到對于平面回波成像序列的圖像重建方法中作為消除偏離場存在的情況下回波信號的相位隨回波位置的變化導(dǎo)致圖像變形的校正參數(shù)即可。因此西門子公司認為其含義得不到說明書支持的主張不成立。

6.權(quán)利要求8、10中的“關(guān)聯(lián)”對于本領(lǐng)域技術(shù)人員是有其數(shù)學(xué)運算含義，是表示兩個定義值之間某種一定的運算關(guān)系，這種運算關(guān)系已經(jīng)通過說明書具體實施予以說明。由于在權(quán)利要求中不可能完全將說明書具體實施方式的運算步驟限定于權(quán)利要求中，對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言在閱讀說明書后可以明確這種相關(guān)聯(lián)的關(guān)系。換言之，站在本領(lǐng)域技術(shù)人員的角度，可知在計算校正參數(shù)的運算過程中如何將兩者“關(guān)聯(lián)”。并且權(quán)利要求8中還進一步限定了所述第一一次項相位、所述第二一次項相位的含義，權(quán)利要求10中進一步限定了所述第一零次項相位、所述第二零次項相位的含義，明確了“關(guān)聯(lián)”所涉及的具體內(nèi)容。對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，已經(jīng)明確其“關(guān)聯(lián)”在計算校正參數(shù)中所具有的數(shù)學(xué)運算含義。同時，權(quán)利要求10中所述的“參考回波信號R2和R3的……相位差”并不是表示必然是R3-R2才是可以用于校正步驟中計算的差值，只不過R3-R2為正值。反之，作為數(shù)學(xué)運算，其被減數(shù)與減數(shù)之間的互換會導(dǎo)致相位差校正的值可為負，但不是不可用于校正計算，因為兩者互換后，可以相應(yīng)地調(diào)整其他的校正具體步驟的對應(yīng)運算模式得以完成與本專利說明書具體實施方式中相同的運算結(jié)果，從而獲取相同的校正參數(shù)。因此西門子公司所述的權(quán)利要求8、10得不到說明書支持的理由亦不存在。

由于權(quán)利要求8和10并未進一步限定如權(quán)利要求9和11中的具體算法，所以并不必然需要完全如同本專利說明書具體實施方式中相同的方式計算，而是可以在權(quán)利要求8、10所給出的運算規(guī)則之下，不限于權(quán)利要求9和11或說明書中具體實施方式相同的方式計算。而所謂“互換運算位置”后導(dǎo)致的計算校正參數(shù)的方式會帶來一系列的變化，并非互換運算后仍然用權(quán)利要求9或11或說明書中具體計算方式，而是需要在前述權(quán)利要求9、11或說明書具體計算方式的基礎(chǔ)上做相應(yīng)的適應(yīng)性調(diào)整和改變。因此，西門子公司將參考回波信號R2和R3或其他同類參考信號值互換運算后仍然用前述具體計算方式是不合邏輯的，因為權(quán)利要求9、11給出的是權(quán)利要求8、10中所包含的可能的諸多計算方式中的一種，而非唯一的一種，故在理解權(quán)利要求8、10的保護范圍時不必然套用權(quán)利要求9、11的公式進行運算才是對于權(quán)利要求8、10保護范圍的唯一解讀。僅因為參考回波信號互換位置而套用權(quán)利要求9、11的公式本來就未見符合權(quán)利要求9、11所要限定的具體運算方式，也扭曲或明顯不合理地限縮了、、、的含義或運算方式。故西門子公司的上述主張不成立。

7.基于引用關(guān)系，西門子公司主張引用上述權(quán)利要求2、5、8、10的從屬權(quán)利要求得不到說明書支持的理由亦不成立。另外，西門子公司在2016年12月29日提交的補充意見陳述書中第3點理由指出“權(quán)利要求1被權(quán)利要求2引用，在權(quán)利要求2得不到說明書支持的條件下，包括權(quán)利要求2的保護范圍的權(quán)利要求1也得不到說明書的支持，權(quán)利要求1不符合專利法第二十六條第四款的規(guī)定”的主張，基于邏輯上存在缺陷，也不成立。

（三）關(guān)于本專利是否符合專利法第二十二條第二款的規(guī)定

本專利權(quán)利要求1請求保護一種平面回波成像序列的圖像重建方法，證據(jù)1公開了“在EPI序列中，核磁共振信號的采樣值的采樣時間典型地處于0.5至4μs……由此產(chǎn)生信號偏移，其結(jié)果是上面示出的N/2偽影。在行方向上的傅里葉變換之后，所述信號偏移導(dǎo)致信號的線性相位響應(yīng)。此外，也可能發(fā)生恒定的相位誤差。例如，在基本磁場漂移的情況下，這樣的漂移可能通過渦流導(dǎo)致圖像變形。在行方向上對原始數(shù)據(jù)矩陣進行傅里葉變換之后，由此整體上得到取決于列數(shù)i的相位響應(yīng)：……圖8示出了在實際的圖像測量之前的讀出梯度GR的正的子脈沖下的核磁共振信號S1+和在讀出梯度GR的負的子脈沖下的核磁共振信號S2-形式的兩個參考回波。在沒有相位編碼梯度的影響的情況下獲取兩個參考回波，即核磁共振信號S1+和S2-?！弊C據(jù)1還公開了“在前面提到的專利文獻中現(xiàn)在假定，在負的和正的子脈沖下獲取的兩個核磁共振信號之間的相位差代表了最終導(dǎo)致開始解釋的N/2偽影的相位誤差。然而，在該考慮中忽視了以下效應(yīng)。兩個參考回波S1+和S2-和具有不可避免地不同的回波時間，即參考回波S1+的回波時間TE1小于參考回波S2-的回波時間TE2。如果對象中的局部自旋進動頻率以Δω的量與MR設(shè)備處設(shè)置的頻率不一致，則這導(dǎo)致在兩個參考回波之間的相位差，，其不能與本身要被校正的不同來源的相位差相區(qū)別……根據(jù)按照圖8的本發(fā)明的示例性實施例，這通過測量第三參考回波S3+來避免，該參考回波與第一參考回波S1+一樣在讀出梯度GR的正的子脈沖下被測量?！薄皥D14以流程圖再次示出了整個校正過程。首先，采集參考回波和圖像回波（圖像信號）。對于參考回波和對于圖像回波，在行方向上進行傅里葉變換。然后分別對于兩個參考回波，借助自相關(guān)函數(shù)確定線性相位響應(yīng)，利用其校正在行方向上傅里葉變換后的圖像回波。此外，還利用確定的線性相位響應(yīng)的校正參考回波本身。通過校正后的參考回波的互相關(guān)，獲得對于恒定相位響應(yīng)的校正量。對圖像數(shù)據(jù)應(yīng)用對應(yīng)的校正。通過對校正后的矩陣在列方向上進行傅里葉變換最終獲得圖像?！边@里行方向上傅里葉變換的圖像回波相當(dāng)于本專利中“將所述平面回波成像數(shù)據(jù)沿讀出方向進行一維傅里葉變換得變換結(jié)果FSi”，同時也給出用校正的參考回波的互相關(guān)，獲取恒相位響應(yīng)的校正量，相當(dāng)于本專利獲取校正的參數(shù)，并對圖像數(shù)據(jù)進行校正，在列方向上進行傅里葉變換，相當(dāng)于本專利中“對校正后的平面回波成像數(shù)據(jù)沿相位編碼方向做一維傅里葉變換得到圖像”。

由此可見，證據(jù)1與本專利權(quán)利要求1相比區(qū)別在于：本專利是通過三條參考回波信號計算出需要對所述平面回波成像數(shù)據(jù)進行校正的參數(shù)。而證據(jù)1中是“通過第一參考回波S1+和第三參考回波S3+的合適的插值，現(xiàn)在可以確定一個插值回波S2+，其對應(yīng)于在第二參考回波S2-的測量時間，在正的脈沖采集的參考回波S2+。換言之，在統(tǒng)一的回波時間TE2獲得對于負的以及正的子脈沖的參考回波，其對于負的子脈沖的參考回波信號S2-是實際測量的，并且在時間TE2對于想象的正的子脈沖的參考回波S2+是作為插值回波計算確定的”。進一步，證據(jù)1還記載了“通過下式近似獲得所述的插值回波S2+：S2+(S1++S3+)/2”；“圖9至13出具前面的校正測量的完整的EPI脈沖序列。在此，在實際的測量之前在時間TN中確定按照圖8的參考回波S1+、S2+、S3+。然而，現(xiàn)在采用參考回波S2-和通過插值確定的參考回波S2+而不是參考回波S1+和S2+用于隨后的校正?！薄叭欢捎跊]有進行相位編碼步驟，所以沒獲得完整的矩陣，而是僅獲得了一個用于參考回波S2+和S2-的數(shù)據(jù)行。在梯度格柵中參考回波S2+、S2-精確對中心的情況下，在傅里葉變換之后，結(jié)果將是純實數(shù)，即，將不呈現(xiàn)相位響應(yīng)。然而，不進行對中心會導(dǎo)致線性的相位響應(yīng)……”可見，其并非用參考回波S1+、S2-用于隨后的校正，換言之，本專利是用實際采集的不同極性的三條信號計算獲取校正參數(shù)，而非如證據(jù)1將同極性的兩個參考回波獲取的插值回波S2+進行隨后的校正，因此本專利權(quán)利要求1的上述技術(shù)特征未被證據(jù)1公開。

本專利說明書表明現(xiàn)有技術(shù)當(dāng)中存在的缺陷，例如在[0005]段至[0007]段已經(jīng)指出現(xiàn)有技術(shù)中通過第一個和第二個回波信號算出相位差異，通過相位差作為校正量來校正采集到的圖像數(shù)據(jù)，即由于不是所有偶數(shù)項信號與奇數(shù)項信號之間的相位差都等于求得的校正量，所以該方法雖然簡單，但效果不好，并不能有效地消除N/2偽影。同時還指出現(xiàn)有技術(shù)中二維相位校正法，同樣是在讀取圖像數(shù)據(jù)前，采集一序列相位編碼的回波信號，利用這些采集到的數(shù)據(jù)糾正真正的圖像數(shù)據(jù)。該方法消除N/2偽影效果比較好，但是平面回波成像序列失去了快速成像的優(yōu)點。而本專利正是要避免這些現(xiàn)有技術(shù)的缺陷，在校正圖像變形和消除N/2偽影時保證精準的平面回波成像序列，同時要保證快速成像的效率?？梢妼＠麢?quán)人正是針對這些現(xiàn)有技術(shù)中利用參考回波信號進行計算的缺陷進行改進，因此本專利所述的“計算”為將參考回波信號直接進行計算，而證據(jù)1中將兩個實質(zhì)取得的第一參考回波S1+和第三參考回波S3+的合適的插值求得插值回波信號S2+就損失了部分信息，可能導(dǎo)致校正的精準度有所欠缺，而這是本專利所要避免的，所以本專利是利用現(xiàn)實取得三條不同極性參考回波信號計算獲取校正的參數(shù)。

綜上所述，本專利權(quán)利要求1相對于證據(jù)1具備專利法第二十二條第二款規(guī)定的新穎性?；诖?，引用權(quán)利要求1的從屬權(quán)利要求2、5、12均相對于證據(jù)1具備專利法第二十二條第二款規(guī)定的新穎性。

（四）關(guān)于本專利是否符合專利法第二十二條第三款的規(guī)定

1.關(guān)于西門子公司主張從屬權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征為證據(jù)2、3或4公開

證據(jù)2公開的用于磁共振數(shù)據(jù)獲取單元獲取的第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)的相位校正參數(shù)的方法，利用相位校正數(shù)據(jù)組S1(Xn)和S2(Xn)計算出的一階系數(shù)和零階系數(shù)，并不相當(dāng)于本專利權(quán)利要求2中的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子。原因在于，如前所述，由于這兩個用語并非本領(lǐng)域具有明確含義的技術(shù)術(shù)語，按照說明書中對此作出的釋義，其具有特定的物理含義，而證據(jù)2中公開一階系數(shù)和零階系統(tǒng)并非單純是對應(yīng)于由于正負極性差異而散落在直線兩側(cè)的數(shù)據(jù)即表示正負回波信號的相位差異，相反證據(jù)2中一階系數(shù)和零階系數(shù)的物理含義是與正負極回波信號差異有關(guān)，但也不可避免有偏離場存在的校正意義。

證據(jù)3公開了原始數(shù)據(jù)矩陣進行傅里葉變換之后，與列號i有關(guān)的相位響應(yīng)在整個行方向上出現(xiàn)：，即公開了本專利權(quán)利要求2中一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子，但是證據(jù)3僅公開了系數(shù)和常數(shù)項，即零次項和一次項，但由于證據(jù)3的中文譯文內(nèi)容有限，無法確認其是否具有與本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的物理含義。

證據(jù)4的中文譯文僅記載“我們要考慮的兩個主要的相位誤差是一階和零階相位誤差”，但由于證據(jù)4的中文譯文內(nèi)容有限，無法確認其是否具有與本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的相同物理含義。

由此可見，證據(jù)2、3或4均未公開上述附加技術(shù)特征，進而無法與證據(jù)1結(jié)合去評價權(quán)利要求2的創(chuàng)造性，因此西門子公司有關(guān)本專利權(quán)利要求2不具備創(chuàng)造性的主張不成立。

2.關(guān)于西門子公司主張權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征為證據(jù)5或6公開

證據(jù)5公開利用頻率偏移計算B0場圖，并使用所計算的B0場圖對該層的測量數(shù)據(jù)進行校正。即證據(jù)5校正的是B0場，而不是獲取如本專利權(quán)利要求5中零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子。而本專利的所述這兩個因子根據(jù)說明書中釋明的含義，具有代表有偏離場存在情況下回波信號的相位隨回波位置變化的校正意義。

證據(jù)6公開的回波平面成像序列的糾正方法，其中對所述的相位差進行多階擬合并求反映交叉感應(yīng)量和頻率漂移量的擬合系數(shù)來對圖像數(shù)據(jù)進行相位修正。證據(jù)6的糾正方法是多階擬合，不同于本專利線性擬合的前提，某種程度上可知其必然損失效率，而且其零次項和一次項的含義與本專利中不同。

綜上所述，證據(jù)5或6均未公開上述附加技術(shù)特征，進而無法與證據(jù)1結(jié)合去評價權(quán)利要求5的創(chuàng)造性，因此西門子公司有關(guān)本專利權(quán)利要求5不具備創(chuàng)造性的主張不成立。

3.關(guān)于其他權(quán)利要求的創(chuàng)造性

由于權(quán)利要求1、2、5具備創(chuàng)造性，引用上述權(quán)利要求的其他從屬權(quán)利要求，亦均具備創(chuàng)造性。

本院認為，本案爭議的焦點問題是：（一）本專利權(quán)利要求1、2是否具備新穎性，具體為如何解釋本專利權(quán)利要求1中的“計算”；（二）如何解釋本專利權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”及權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”；（三）本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求是否具備創(chuàng)造性，具體包括權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征是否為對比文件2、3或4所公開，權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征是否為對比文件5或6所公開。

（一）關(guān)于本專利權(quán)利要求1、2是否具備新穎性

專利法第二十二條第二款規(guī)定:“新穎性，是指該發(fā)明或者實用新型不屬于現(xiàn)有技術(shù)；也沒有任何單位或者個人就同樣的發(fā)明或者實用新型在申請日以前向國務(wù)院專利行政部門提出過申請，并記載在申請日以后公布的專利申請文件或者公告的專利文件中?！钡谖蹇钜?guī)定：“本法所稱現(xiàn)有技術(shù)，是指申請日以前在國內(nèi)外為公眾所知的技術(shù)?！?/p>

關(guān)于本專利權(quán)利要求1是否具備新穎性，各方爭議集中于如何解釋本專利權(quán)利要求1中的“計算”。西門子公司主張，根據(jù)最大合理解釋原則，本專利權(quán)利要求1中的“計算”應(yīng)解釋為本領(lǐng)域技術(shù)人員所理解的通常含義，即由已知量算出未知量，而不應(yīng)限制其具體中間過程。對比文件1與本專利權(quán)利要求1均是對采集的三個參考回波信號進行計算以得出校正參數(shù)，故本專利權(quán)利要求1不具備新穎性。國家知識產(chǎn)權(quán)局和聯(lián)影公司主張，本專利權(quán)利要求1中的“計算”應(yīng)解釋為不損失相位以及其他信息的直接計算方式，對比文件1是將S1+S3平均后損失某些信息的間接計算，沒有公開權(quán)利要求1中的直接計算方式，故權(quán)利要求1具備新穎性。

《最高人民法院關(guān)于審理專利授權(quán)確權(quán)行政案件適用法律若干問題的規(guī)定（一）》第二條規(guī)定：“人民法院應(yīng)當(dāng)以所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書及附圖后所理解的通常含義，界定權(quán)利要求的用語。權(quán)利要求的用語在說明書及附圖中有明確定義或者說明的，按照其界定?！睋?jù)此，本案中本專利權(quán)利要求1中“計算”一詞的解釋，不應(yīng)當(dāng)簡單以其字面含義為準，而應(yīng)當(dāng)以本領(lǐng)域技術(shù)人員閱讀權(quán)利要求書和說明書及附圖后的理解為準。即便在適用所謂的最大合理原則解釋權(quán)利要求時，亦應(yīng)當(dāng)在權(quán)利要求用語最大含義范圍內(nèi)，以“合理”解釋為出發(fā)點和落腳點。結(jié)合本專利發(fā)明目的、說明書及附圖對“計算”的解釋與說明可知，本專利中的“計算”并不包括所有可能的計算方式，而是有其特定含義。首先，本專利在背景技術(shù)及發(fā)明內(nèi)容部分指出，現(xiàn)有技術(shù)通過第一個和第二個回波信號計算出相位差異，把這些相位差作為校正量來校正采集到的圖像數(shù)據(jù)，并不能有效消除N/2偽影；二維相位校正法消除N/2偽影的效果雖比較好，但序列采集時間延長，平面回波成像序列失去了快速成像的優(yōu)點。正因如此，本專利為了克服上述缺陷，意在提供一種更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法?？梢?，本專利的發(fā)明目的已經(jīng)明確排除了兩個回波信號計算相位差異因而損失相位信息的計算方法。其次，本領(lǐng)域技術(shù)人員通過閱讀說明書及附圖能夠理解，本專利權(quán)利要求1中的“計算”是不損失相位以及其他信息情況下的直接計算，不應(yīng)當(dāng)將“計算”一詞根據(jù)字面含義進行解釋。對比文件1雖也采集三個參考回波信號，即第一參考回波S1+、第二參考回波S2-和第三參考回波S3+，但其所公開的計算過程為：先將第一參考回波S1+和第三參考回波S3+計算得到一個插值回波S2+，再利用該插值回波S2+和第二參考回波S2-計算出校正參數(shù)。這種計算方式將損失第一參考回波S1+和第三參考回波S3+中的部分信息，導(dǎo)致校正的精準度有所欠缺，而這正是本專利所要避免的。可見，對比文件1中的“計算”與本專利權(quán)利要求1中的“計算”并不相同。對比文件1并沒有公開本專利權(quán)利要求1中不損失相位信息及其他信息情況下的直接計算方式。因此，本專利權(quán)利要求1未被對比文件1公開，應(yīng)當(dāng)認定具備新穎性。原審法院的有關(guān)認定，本院不予認可。國家知識產(chǎn)權(quán)局及聯(lián)影公司的相關(guān)上訴請求成立，本院予以支持。

關(guān)于本專利權(quán)利要求2是否具備新穎性，本院認為，基于本專利權(quán)利要求1具備新穎性，引用權(quán)利要求1的從屬權(quán)利要求2亦當(dāng)然具備新穎性。被訴決定的有關(guān)認定無誤，本院予以確認。

（二）關(guān)于如何解釋本專利權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”及權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”

西門子公司上訴主張，被訴決定及原審判決未具體指出本專利說明書中哪些段落用于解釋權(quán)利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”。對于上述用語，應(yīng)當(dāng)以本專利說明書[0089]段的記載進行解釋，即權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”應(yīng)當(dāng)被解釋為可以用于消除圖像N/2偽影的任何零次項相位校正參數(shù)和一次項相位校正參數(shù)，而不應(yīng)限定其具體的計算方法；權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”應(yīng)當(dāng)被解釋為可以用于校正圖像變形的任何零次項相位校正參數(shù)和一次項相位校正參數(shù)，也不應(yīng)當(dāng)限定其具體的計算方法。國家知識產(chǎn)權(quán)局及聯(lián)影公司則認為，本專利權(quán)利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”應(yīng)當(dāng)以本專利說明書[0083]-[0089]段的記載進行解釋。

對此，本院認為，如前所論，應(yīng)當(dāng)以所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書及附圖后所理解的通常含義，界定權(quán)利要求的用語；權(quán)利要求的用語在說明書及附圖中有明確定義或者說明的，按照其界定。本案中，本專利權(quán)利要求2中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”及權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”并非本領(lǐng)域技術(shù)人員所知曉的具有明確含義的技術(shù)術(shù)語。在此情況下，應(yīng)當(dāng)以所屬技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在閱讀權(quán)利要求書、說明書及附圖后所理解的通常含義界定權(quán)利要求自創(chuàng)術(shù)語的含義。根據(jù)本專利說明書的記載，本專利通過消除N/2偽影和校正圖像變形，提供一種在有偏離場的情況下更為精準的平面回波成像序列圖像的重建方法。其中，消除N/2偽影帶來的影響的方法是校正“零次項相位偏差”和“一次項相位偏差”，與此相對應(yīng)的校正參數(shù)即為“零次項相位偏差因子”和“一次項相位偏差因子”；校正帶來的圖像變形的方法是校正“零次項相位偏移”和“一次項相位偏移”，與此相對應(yīng)的校正參數(shù)即為“零次項相位偏移因子”和“一次項相位偏移因子”。說明書[0083]-[0089]段對“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”的具體計算方式進行了界定，上述用語具有特定物理含義。[0089]段只是對“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏移因子”“零次項相位偏移因子”的含義進行界定所需考慮的因素之一，還應(yīng)結(jié)合[0083]-[0088]段的記載進行綜合考慮，不應(yīng)僅用[0089]段的記載解釋上述用語的含義。故對西門子公司的上訴意見，本院不予采納。

（三）關(guān)于本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求是否具備創(chuàng)造性

聯(lián)影公司上訴主張，對比文件2、3或4未公開本專利權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征，對比文件5或6未公開權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征，本專利權(quán)利要求2、5及其從屬權(quán)利要求均具備創(chuàng)造性，被訴決定對此認定無誤。國家知識產(chǎn)權(quán)局同意聯(lián)影公司的主張。西門子公司則認為，基于其對本專利權(quán)利要求2、5中的“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”的解釋，本專利權(quán)利要求2、5的附加技術(shù)特征已經(jīng)被對比文件所公開，本專利權(quán)利要求2、5不具備創(chuàng)造性。

對此，本院認為，本專利權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征為“所述校正參數(shù)包括零次項相位偏差因子、一次項相位偏差因子”；權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征為“所述校正參數(shù)包括零次項相位偏移因子、一次項相位偏移因子”。如前所論，“零次項相位偏差因子”“一次項相位偏差因子”“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”具有特定物理含義。而對比文件2公開了用于確定用于磁共振數(shù)據(jù)獲取單元獲取的第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)的相位校正參數(shù)的方法，其利用相位校正數(shù)據(jù)組S?(Xn)和S?(Xn)計算出的一階系數(shù)和零階系數(shù)并非單純是對應(yīng)于由于正負極性差異而散落在直線兩側(cè)的數(shù)據(jù)即表示正負回波信號的相位差異，并不相當(dāng)于本專利權(quán)利要求2中的“一次項相位偏差因子”和“零次項相位偏差因子”。對比文件3雖公開了“一次項相位偏差因子”和“零次項相位偏差因子”，但是對比文件3的中文譯文內(nèi)容有限，被訴決定認為“無法確認其是否具有本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的物理含義”，并無不當(dāng)。基于對比文件4的有限中文譯文，被訴決定認為“無法確認其是否具有與本專利的一次項相位偏差因子和零次項相位偏差因子所具有的相同物理含義”，亦無不當(dāng)。對比文件5校正的是B0場，而不是獲取如本專利權(quán)利要求5中的“零次項相位偏移因子”“一次項相位偏移因子”。對比文件6公開的回波平面成像序列的糾正方法，與本專利線性擬合的前提不同，其零次項和一次項的含義也與本專利不同。綜上，被訴決定認為，對比文件2、3或4未公開本專利權(quán)利要求2的附加技術(shù)特征，進而無法與對比文件1結(jié)合去評價權(quán)利要求2的創(chuàng)造性；對比文件5或6未公開本專利權(quán)利要求5的附加技術(shù)特征，進而無法與對比文件1結(jié)合去評價權(quán)利要求5的創(chuàng)造性。該認定并無不當(dāng)，本院予以確認。由于權(quán)利要求2、5具備創(chuàng)造性，被訴決定認為權(quán)利要求2、5的從屬權(quán)利要求亦具備創(chuàng)造性，亦無不妥。

綜上所述，原審判決對本專利權(quán)利要求1中“計算”一詞的解釋有誤，導(dǎo)致相關(guān)事實認定及法律適用錯誤。國家知識產(chǎn)權(quán)局、聯(lián)影公司的上訴請求成立，應(yīng)予支持。西門子公司的上訴請求不能成立，應(yīng)予駁回。依照《中華人民共和國專利法》第二十二條第二款、第三款、第五款，《最高人民法院關(guān)于審理專利授權(quán)確權(quán)行政案件適用法律若干問題的規(guī)定（一）》第二條，《中華人民共和國行政訴訟法》第六十九條、第八十九條第一款第二項之規(guī)定，判決如下：

一、撤銷北京知識產(chǎn)權(quán)法院（2018）京73行初1404號行政判決；

二、駁回西門子（深圳）磁共振有限公司的訴訟請求。

二審案件受理費100元，由西門子（深圳）磁共振有限公司負擔(dān)。

本判決為終審判決。

審判長羅霞

審判員童海超

審判員徐飛

二〇二一年五月二十一日

法官助理王曉琳

書記員孫航

書記員沈靖博

裁判要點

（原標題：結(jié)合發(fā)明目的合理解釋專利權(quán)利要求用語）

來源：最高人民法院知識產(chǎn)權(quán)法庭

編輯：IPRdaily趙甄校對：IPRdaily縱橫君

注：原文鏈接：結(jié)合發(fā)明目的合理解釋專利權(quán)利要求用語（點擊標題查看原文）

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